世界顶级双球差校正高分辨透射电子显微镜考察阅读次数 [3015] 发布时间 :2015-01-06 15:30:04

  2014年12月21日到23日，深圳大学阮双琛副校长，纳米所刁东风所长等一行4人对世界顶级的科学仪器生产制造商日本电子株式会社（日本东京）进行了访问交流。访问过程中，对该公司生产的各型扫描电子显微镜、透射电子显微镜等应用于纳米表面科学及工程的科学设备进行了系统考察。其中，重点考察了该公司最近研制双球差校正高分辨透射电镜JEM-ARM200F系列的主要构造、功能及其高分辨率等优异性能，探讨了该设备在我校及我所纳米表面研究中的应用，同时也对进一步合作进行了洽谈。

左起刁东风所长，福田幸一常务执行议员，阮双琛副校长，唐泽裕之部长，竹部俊彦组长。

双球差校正高分辨透射电镜JEM-ARM200F现场，左起：唐泽裕之部长，阮双琛副校长，远藤德明组长，

刁东风所长，竹部俊彦组长